材料、矿物物相及形貌分析平台

场发射扫描电子显微镜

                                                                                                                            

 

仪器名称场发射扫描电子显微镜/能谱仪

生产厂家日立公司/英国牛津仪器公司

仪器型号:SU8010场发射扫描电镜;X-MAXN能谱仪

主要技术指标:

SEM:二次电子探头分辨率15kv,*220K,1.0nm;1.0kv,*120K,2.0nm;减速模式 1.0kv,*180K,1.3nm;

EDS:125ev

主要功能和应用:

        场发射场发射扫描电子显微镜(与普通扫描电镜不同的是采用高亮度的场发射电子枪,从而获得高分辨的高质量的二次电子图像)可以检测和观察无机材料,微米和纳米材料样品的表面特征。广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制、考古和文物鉴定及公安刑侦物分析等。

操作人员: 戈桦、丁秀萍、戴玉洁

联系方式0971-6363102;E-mail:dingxp@isl.ac.cn

安放地点: 中国科学院青海盐湖研究所综合楼105房间

 

                                                   

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